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设置otdr测试参数集的方法及装置制造方法
【专利摘要】本发明提供了一种设置OTDR测试参数集的方法及装置，上述方法包括：FMS根据OTDR的测试结果，获取ODN的相关信息；FMS根据相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集。根据本发明提供的技术方案，可以准确获取发起OTDR测试所需的测试参数集。
【专利说明】设置OTDR测试参数集的方法及装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及通信领域，具体而言，涉及一种设置光时域反射仪(Optical TimeDomain Ref lectometer,简称为0TDR)测试参数集的方法及装置。
【背景技术】
[0002]无源光网络(PassiveOptical Network,简称为 PON)光配线网络(OpticalDistribution Network,简称为0DN)是点到多点的网络结构，该网络结构远比点到点的光网络复杂。特别是在光纤直接到家庭(Fiberto the Home，简称为FTTH)这种场景下，光纤进入到了千家万户，光纤出现故障的概率大大增加。
[0003]为了应对FTTH中光网络中出现的光纤故障问题，运营商在局端使用光时域反射仪(OTDR)设备来定期检测ODN的性能，定位光纤故障。
[0004]OTDR设备是一个专业化的仪表，有很多测试参数和性能指标，而针对不同的PONODN网络进行OTDR测试时需要根据不同的光路、不同的测试目的选择合适的测试参数。例如，对于分支上的故障和主干上的故障，就需要使用不同的测试参数。然而，对于光纤数量庞大、差别巨大的PON网络，通过人工方式去选择测量参数是非常困难的。
【发明内容】
[0005]本发明提供了一种设置OTDR测试参数集的方法及装置，以至少解决相关技术中的通过人工方式去选择测量参数非常困难的问题。
[0006]根据本发明的一个方面，提供了一种设置OTDR测试参数集的方法。
[0007]根据本发明的设置OTDR测试参数集的方法包括:在OTDR测试之后，FMS根据上述OTDR反馈的测试结果，获取分配线网络(ODN)的相关信息；以及上述FMS根据上述相关信息计算得到重新发起OTDR测试所需的测试参数集。
[0008]优选地，上述相关信息包括以下至少之一:主干长度、分支长度、主干段损耗、分光器插损。
[0009]优选地，上述所需的测试参数集为以下之一:主干故障定位测试参数集、分支故障定位测试参数集、例测参数集。
[0010]优选地，上述主干故障定位测试参数集、上述分支故障定位测试参数集、或上述例测参数集均包括:最小脉宽、测试时间、以及测试范围。
[0011]优选地，上述FMS根据上述相关信息设置上述主干故障定位测试参数集包括:采用主干段损耗确定需要OTDR测试的动态范围；确定上述OTDR满足上述动态范围的上述最小脉宽并设置；采用上述主干长度确定上述测量范围并设置；采用主干段损耗确定上述测量时间并设置。
[0012]优选地，上述FMS根据上述相关信息设置上述分支故障定位测试参数集包括:采用上述主干段损耗、上述分支长度、光纤衰减系数以及上述分光器插损确定故障分支理论计算损耗；采用上述故障分支理论计算损耗确定需要OTDR测试的动态范围；确定上述OTDR满足上述动态范围的上述最小脉宽并设置；采用上述主干长度和上述分支长度确定上述测量范围并设置；采用上述故障分支理论计算损耗确定上述测量时间并设置。
[0013]优选地，上述FMS根据上述相关信息设置上述例测参数集包括:采用上述主干段损耗、上述分支长度、光纤衰减系数以及上述分光器插损确定ODN理论计算损耗；采用上述ODN理论计算损耗确定需要OTDR测试的动态范围；确定上述OTDR满足上述动态范围的上述最小脉宽并设置；采用上述主干长度和上述分支长度确定上述测量范围并设置；采用上述ODN理论计算损耗确定上述测量时间并设置。
[0014]优选地，在上述FMS根据上述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集之后，还包括:上述FMS根据上述OTDR当前支持的测量参数对上述所需的测试参数集进行调整；上述FMS设置调整后的上述所需的测试参数集以进行OTDR测试。
[0015]优选地，在上述FMS设置调整后的上述所需的测试参数集以进行OTDR测试之后，还包括:上述FMS接收来自于上述OTDR的测试结果；上述FMS被触发再次执行根据上述测试结果获取上述相关信息，并根据上述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集的步骤。
[0016]根据本发明的另一方面，提供了一种设置OTDR测试参数集的装置。
[0017]根据本发明的设置OTDR测试参数集的装置包括:获取模块，用于在OTDR测试之后，根据上述OTDR反馈的测试结果，获取ODN的相关信息；设置模块，用于根据上述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集。
[0018]优选地，上述相关信息包括以下至少之一:主干长度、分支长度、主干段损耗、分光器插损。
[0019]优选地，上述所需的测试参数集为以下之一:主干故障定位测试参数集、分支故障定位测试参数集、例测参数集。
[0020]优选地，上述主干故障定位测试参数集、上述分支故障定位测试参数集、或上述例测参数集均包括:最小脉宽、测试时间、以及测试范围。
[0021]优选地，上述设置模块包括:第一确定单元，用于采用主干段损耗确定需要OTDR测试的动态范围；第一设置单元，用于确定上述OTDR满足上述动态范围的上述最小脉宽并设置；第二设置单元，用于采用上述主干长度确定上述测量范围并设置；第三设置单元，用于采用主干段损耗确定上述测量时间并设置。
[0022]优选地，上述设置模块包括:第二确定单元，用于采用上述主干段损耗、上述分支长度、光纤衰减系数以及上述分光器插损确定故障分支理论计算损耗；第三确定单元，用于采用上述故障分支理论计算损耗确定需要OTDR测试的动态范围；第四设置单元，用于确定上述OTDR满足上述动态范围的上述最小脉宽并设置；第五设置单元，用于采用上述主干长度和上述分支长度确定上述测量范围并设置；第六设置单元，用于采用上述故障分支理论计算损耗确定上述测量时间并设置。
[0023]优选地，设置模块包括:第四确定单元，用于采用上述主干段损耗、上述分支长度、光纤衰减系数以及上述分光器插损确定ODN理论计算损耗；第五确定单元，用于采用上述ODN理论计算损耗确定需要OTDR测试的动态范围；第七设置单元，用于确定上述OTDR满足上述动态范围的上述最小脉宽并设置；第八设置单元，用于采用上述主干长度和上述分支长度确定上述测量范围并设置；第九设置单元，用于采用上述ODN理论计算损耗确定上述测量时间并设置。
[0024]优选地，上述装置还包括:调整模块，用于根据上述OTDR当前支持的测量参数对上述所需的测试参数集进行调整；设置模块，还用于设置调整后的上述所需的测试参数集以进行OTDR测试。
[0025]通过本发明，在OTDR测试之后，FMS根据上述OTDR的测试结果，获取ODN的相关信息；上述FMS根据上述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集，解决了相关技术中的通过人工方式去选择测量参数非常困难的问题，进而可以准确获取发起OTDR测试所需的测试参数集。
【专利附图】
【附图说明】
[0026]此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
[0027]图1是根据本发明实施例的设置OTDR测试参数集的方法的流程图；
[0028]图2是根据本发明优选实施例的设置OTDR测试参数集的方法的流程示意图；
[0029]图3是根据本发明实施例的设置OTDR测试参数集的装置的结构框图；以及
[0030]图4是根据本发明优选实施例的设置OTDR测试参数集的装置的结构框图。
【具体实施方式】
[0031]下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0032]图1是根据本发明实施例的设置OTDR测试参数集的方法的流程图。如图1所示，该设置OTDR测试参数集的方法包括以下处理:
[0033]步骤SlOl:光纤管理系统(FMS)根据上述OTDR的测试结果，获取分配线网络(ODN)的相关信息；
[0034]步骤S103:上述FMS根据上述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集。
[0035]相关技术中，对于光纤数量庞大、差别巨大的PON网络，通过人工方式去选择发起OTDR测试的测量参数是非常困难的。通过图1所示的方法，FMS根据上述OTDR的测试结果，获取ODN的相关信息；上述FMS根据上述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集，可以准确设置发起OTDR测试所需的测试参数集。
[0036]其中，上述相关信息可以包括但不限于以下至少之一:主干长度、分支长度、主干段损耗、分光器插损。
[0037]其中，上述所需的测试参数集可以为以下之一:主干故障定位测试参数集、分支故障定位测试参数集、例测参数集。
[0038]优选地，在步骤SlOl之前，还可以包括以下处理:
[0039](I)上述FMS向上述OTDR发送测试请求；
[0040](2)在上述OTDR测试之后，上述FMS接收来自于上述OTDR的测试结果。
[0041]以下结合实例对上述优选实施方式进行描述，由于用户申告或分析设备告警触发BOSS,发现可能光纤问题，BOSS触发FMS对某根光纤进行OTDR测试。如果FMS和PON EMS有接口，则可以从PON EMS中获取OLT以及ONU设备的信息，初步分析出故障是发生在主干还是分支。
[0042]如果分析出故障是发生在主干，则上述所需的测试参数集为:主干故障定位测试参数集；如果分析出故障是发生在分支，则上述所需的测试参数集为:分支故障定位测试参数集；如果分析不出故障是发生在主干还是分支，则上述所需的测试参数集为:例测参数集。因此，上述所需的测试参数集为以下之一:主干故障定位测试参数集、分支故障定位测试参数集、例测参数集。
[0043]在优选实施过程中，步骤SlOl中的测试结果可以包括但不限于:实际执行的测量参数；0TDR轨迹曲线；事件表。
[0044]其中，上述实际执行的测量参数包括但不限于:端口号、脉宽、测试波长、时长、范围、以及IOR0
[0045]其中，上述OTDR轨迹曲线为一个包括横坐标和纵坐标的点的集合。
[0046]其中，上述事件中包括反射事件以及非反射事件:
[0047](I)反射事件属性包括但不限于:开始位置，插入损耗，以及反射峰高度。
[0048](2)非反射事件属性包括:开始位置，以及插入损耗。
[0049]FMS分析测量结果，根据测试结果可以粗略分析ODN的信息，获得主干长度、分光器位置、分光比、以及分支长度。
[0050]例如:分光器对应的反射事件的特征如下:
[0051]特征(I):插损大于3dB ;
[0052]特征(2):反射峰比法兰的反射峰高。
[0053]通过上述特征(I)和(2)就可以确定分光器位置，根据分光器位置可以获取到主干长度。具体可以参见相关技术中的描述，此处不再赘述。
[0054]在优选实施过程中，可以通过以下方法获取分支长度:
[0055]方法(I):通过末端ONU的反射确定分支长度。
[0056]方法(2):如果有PON EMS, FMS还可以从PON EMS获取每个ONU的距离，进而推算出每个分支的分支长度。
[0057]在优选实施过程中，可以通过以下方法获取分光器插损:
[0058]方法(I):对于小分光比的分光器，OTDR可以准确测量出分光器插损。
[0059]方法(2):对于大分光比的分光器由于插损太大，OTDR可能无法测量出准确的插损，只能测量出插损大于预定值。这种情况下，可以用下面方法(3)进行补充计算。
[0060]方法(3):如果FMS和EMS有接口，则可以通过测量OLT的发光功率和某个ONU的接收光功率差值估算出ODN的损耗。具体可以参见下式:
[0061]分光器插损& ODN的损耗-OLT到ONU光纤的损耗-常量
[0062]需要说明的是:
[0063](I)上述常量就是光路上其他器件的损耗，根据ODN的一般状态设置为一个固定值，例如2dB。
[0064](2)光纤的损耗=光纤长度X光纤衰减系数(例如，3db/km)
[0065]优选地，上述主干故障定位测试参数集、上述分支故障定位测试参数集、或上述例测参数集均可以包括:最小脉宽、测试时间、以及测试范围。[0066]优选地，上述FMS根据上述相关信息设置上述主干故障定位测试参数集包括以下处理:
[0067](I)采用主干段损耗确定需要OTDR测试的动态范围；
[0068](2)确定上述OTDR满足上述动态范围的上述最小脉宽并设置；
[0069](3)采用上述主干长度确定上述测量范围并设置；
[0070](4)采用主干段损耗确定上述测量时间并设置。
[0071]在优选实施过程中，可以通过以下公式确定主干故障定位测试参数集中的最小脉宽、测试时间、以及测试范围:
[0072]需要OTDR测试的动态范围=主干段损耗
[0073]获取OTDR设备的满足该动态范围的最小脉宽:p
[0074]测量范围=主干长度X1.X (其中，X为裕量，通常1.X取1.1)
[0075]测量时间(单位为秒)=(主干段损耗X常量)取整值
[0076]优选地，上述FMS根据上述相关信息设置上述分支故障定位测试参数集包括以下处理:
[0077](I)采用上述主干段损耗、上述分支长度、光纤衰减系数以及上述分光器插损确定故障分支理论计算损耗；
[0078](2)采用上述故障分支理论计算损耗确定需要OTDR测试的动态范围；
[0079](3)确定上述OTDR满足上述动态范围的上述最小脉宽并设置；
[0080](4)采用上述主干长度和上述分支长度确定上述测量范围并设置；
[0081](5)采用上述故障分支理论计算损耗确定上述测量时间并设置。
[0082]在优选实施过程中，可以通过以下公式确定分支故障定位测试参数集中的最小脉宽、测试时间、以及测试范围:
[0083]故障分支理论计算损耗=主干段损耗+分支长度X光纤衰减+分光器插损
[0084]需要OTDR测试的动态范围=(故障分支理论计算损耗)X调整系数
[0085]获取OTDR设备的满足该动态范围的最小脉宽:p
[0086]测量范围=(主干长度+分支长度)X 1.X (其中，X为裕量，通常1.X取1.1)
[0087]测量时间(单位为秒)=(故障分支理论计算损耗X常量)取整值
[0088]优选地，上述FMS根据上述相关信息设置例测参数集包括以下处理:
[0089](I)采用上述主干段损耗、上述分支长度、光纤衰减系数以及上述分光器插损确定ODN理论计算损耗；
[0090](2)采用上述ODN理论计算损耗确定需要OTDR测试的动态范围；
[0091](3)确定上述OTDR满足上述动态范围的上述最小脉宽并设置；
[0092](4)采用上述主干长度和上述分支长度确定上述测量范围并设置；
[0093](5)采用上述ODN理论计算损耗确定上述测量时间并设置。
[0094]在优选实施过程中，可以通过以下公式确定例测参数集中的最小脉宽、测试时间、以及测试范围:
[0095]ODN理论计算损耗=主干段损耗+分支长度X光纤衰减+分光器插损
[0096]需要OTDR测试的动态范围=ODN理论计算损耗X调整系数
[0097]获取OTDR设备的满足该动态范围的最小脉宽:p[0098]测量范围=ODN最大长度Xl.X (其中，X为裕量，通常1.X取1.1)
[0099]测量时间(单位为秒)=(0DN理论计算损耗X常量)取整值
[0100]优选地，上述FMS根据上述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集之后，还可以包括以下处理:
[0101](I)上述FMS根据上述OTDR当前支持的测量参数对上述所需的测试参数集进行调整；
[0102](2)上述FMS设置调整后的上述所需的测试参数集以进行OTDR测试。
[0103]在优选实施过程中，FMS将计算得到的测量参数集中的参数调整到OTDR实际上能支持的最靠近的测量参数，再采用这组新参数重新发起OTDR测试。
[0104]优选地，在上述FMS设置调整后的上述所需的测试参数集以进行OTDR测试之后，还包括以下处理:
[0105](I)上述FMS接收来自于上述OTDR的测试结果；
[0106](2)上述FMS被触发再次执行根据上述测试结果获取上述相关信息，并根据上述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集的步骤。
[0107]即，在优选实施过程中，在接收到OTDR新的测试结果之后，FMS重新分析新的测试结果，根据新的测试结果获取上述相关信息，并根据上述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集。上述FMS还可以根据上述OTDR当前支持的测量参数对上述所需的测试参数集再次进行调整，之后设置调整后的上述所需的测试参数集重新发起OTDR测试并返回更新的测试结果。需要说明的是，这个过程可以循环执行多次，经过多次OTDR测试，可以有效提高OTDR测试精度。
[0108]以下结合图2对上述优选实施方式进行进一步说明。
[0109]图2是根据本发明优选实施例的获取OTDR测试参数集的方法的流程示意图。如图2所示，该方法主要包括以下步骤:
[0110]步骤S201:由于用户申告或分析设备告警触发业务运营支撑系统(BOSS)，发现光纤可能有故障，BOSS触发FMS对某根光纤进行OTDR测试。
[0111]例如，如果FMS和无源光网络(PON)网元管理单元(EMS)有接口，则FMS可以从PONEMS中获取光线路终端(0LT)，以及光网络单元(ONU)设备的信息，并初步分析出故障是发生在主干还是分支。
[0112]步骤S203 =FMS向OTDR发起测试，其中，该测试参数包括但不限于:端口号、脉宽、测试波长、测试时长、范围、以及光纤群折射率(10R)。
[0113]步骤S205 =OTDR进行测试。
[0114]步骤S207:0TDR返回测试结果。
[0115]例如，上述测试结果中包括但不限于:实际执行的测量参数；0TDR轨迹曲线；事件表。
[0116]其中，上述实际执行的测量参数包括但不限于:端口号、脉宽、测试波长、时长、范围、以及IOR0
[0117]其中，上述OTDR轨迹曲线为一个包括横坐标和纵坐标的点的集合。
[0118]其中，上述事件中包括反射事件以及非反射事件:
[0119](I)反射事件属性包括但不限于:开始位置，插入损耗，以及反射峰高度。[0120](2)非反射事件属性包括:开始位置，以及插入损耗。
[0121]步骤S209 =FMS分析测量结果，根据测试结果可以粗略分析ODN的相关信息，获得主干长度、分光器位置、分光比、以及分支长度。
[0122]之后，FMS根据测试目的、ODN的信息，以及根据参数选择公式可以自动计算出最佳测试参数集，该测试参数集中的参数主要包括:最小脉宽，测试时间，测试范围。
[0123]如果FMS分析出故障发生在光纤的主干，则主干故障定位测试参数集的计算方法如下:
[0124]a)需要OTDR测试的动态范围=主干段损耗
[0125]b)获取OTDR设备的满足该动态范围的最小脉宽:p
[0126]c)测量范围=主干长度X 1.X (X为裕量)
[0127]d)测量时间(单位为秒)=(主干段损耗X常量)取整值
[0128]如果FMS分析出故障发生在光纤的分支，则分支故障定位测试参数集的计算方法如下:
[0129]a)故障分支理论计算损耗=主干段损耗+分支长度X光纤衰减+分光器插损
[0130]b)需要OTDR的动态范围=(故障分支理论计算损耗)X调整系数(例如，I)
[0131]需要说明的是:上述调整系数可以小于1，这是因为考虑到分光器的反射比较强，会导致比较大的事件盲区，为了减少这个盲区，可以特意选择比较小的动态范围，这个调整系数根据不同的OTDR设备的特性来进行调整。
[0132]c)获取OTDR设备的满足该动态范围的最小脉宽:p
[0133]d)测量范围=(主干长度+分支长度)XL.X (其中，X为裕量)
[0134]e)测量时间=(故障分支理论计算损耗X常量)取整值(秒)
[0135]对于不清楚光纤故障是在主干还是分支，那么可以使用例测参数作为OTDR测试参数。例测参数集的计算方法如下:
[0136]a) ODN理论计算损耗=主干段损耗+分支长度X光纤衰减+分光器插损
[0137]b)需要OTDR的动态范围=ODN理论计算损耗X调整系数(通常取2)
[0138]c)获取OTDR设备的满足该动态范围的最小脉宽:p
[0139]d)测量范围=ODN最大长度Xl.X (X为裕量)
[0140]e)测量时间(单位为秒)=(0DN理论计算损耗X常量)取整值
[0141]在获取OTDR设备的能力(测试参数范围、性能参数)，将前一步计算出来的测试参数集中的参数匹配到OTDR设备能达到的最接近的测试参数。
[0142]步骤S211:FMS向OTDR发起测试请求。
[0143]步骤S213 =OTDR使用该测试参数集中的参数作为OTDR测试参数，OTDR再次进行测试。
[0144]步骤S215 =OTDR返回新的测试结果。
[0145]在优选实施过程中，步骤S215执行之后，可以跳转到步骤S209，之后按顺序依次循环执行步骤S209至步骤S215，直至获取到最适合ODN的OTD测试的最佳测试参数集，有助于准确测试线路性能与故障定位。
[0146]步骤S217 =FMS分析测量结果，获取故障点位置。
[0147]在优选实施过程中，如果有同样测试参数的健康库，FMS可以用当前测试结果和健康库数据进行比较，可以获得更精确的故障位置。
[0148]步骤S219 =FMS将获得到的结果反馈给BOSS。
[0149]图3是根据本发明实施例的设置OTDR测试参数集的装置的结构框图。如图3所示，该设置OTDR测试参数集的装置包括:获取模块30，用于在OTDR测试之后，根据上述OTDR反馈的测试结果，获取分配线网络ODN的相关信息；设置模块32，与获取模块30相连接，用于根据上述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集。
[0150]在图3所示的装置中，获取模块30在OTDR测试之后，根据上述OTDR的测试结果，获取ODN的相关信息；设置模块32根据上述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集，从而可以准确设置发起OTDR测试所需的测试参数集。
[0151]优选地，如图4所示，上述装置还可以包括:发送模块34，用于向上述OTDR发送测试请求；接收模块36，与发送模块34和获取模块30相连接，用于在上述OTDR测试之后，接收来自于上述OTDR返回的测试结果。
[0152]其中，上述相关信息包括但不限于以下至少之一:主干长度、分支长度、主干段损耗、以及分光器插损。
[0153]其中，上述所需的测试参数集为以下之一:主干故障定位测试参数集、分支故障定位测试参数集、例测参数集。
[0154]其中，上述主干故障定位测试参数集、上述分支故障定位测试参数集、或上述例测参数集均包括:最小脉宽、测试时间、以及测试范围。
[0155]优选地，设置模块32可以进一步包括:第一确定单元，用于采用主干段损耗确定需要OTDR测试的动态范围；第一设置单元，用于确定上述OTDR满足上述动态范围的上述最小脉宽并设置；第二设置单元，用于采用上述主干长度确定上述测量范围并设置；第三设置单元，用于采用主干段损耗确定上述测量时间并设置。
[0156]优选地，上述设置模块32可以进一步包括:第二确定单元，用于采用上述主干段损耗、上述分支长度、光纤衰减系数以及上述分光器插损确定故障分支理论计算损耗；第三确定单元，用于采用上述故障分支理论计算损耗确定需要OTDR测试的动态范围；第四设置单元，用于确定上述OTDR满足上述动态范围的上述最小脉宽并设置；第五设置单元，用于采用上述主干长度和上述分支长度确定上述测量范围并设置；第六设置单元，用于采用上述故障分支理论计算损耗确定上述测量时间并设置。
[0157]优选地，上述设置模块32还可以进一步包括:第四确定单元，用于采用上述主干段损耗、上述分支长度、光纤衰减系数以及上述分光器插损确定ODN理论计算损耗；第五确定单元，用于采用上述ODN理论计算损耗确定需要OTDR测试的动态范围；第七设置单元，用于确定上述OTDR满足上述动态范围的上述最小脉宽并设置；第八设置单元，用于采用上述主干长度和上述分支长度确定上述测量范围并设置；第九设置单元，用于采用上述ODN理论计算损耗确定上述测量时间并设置。
[0158]优选地，如图4所示，上述装置还可以包括:调整模块38，与设置模块32相连接，用于根据上述OTDR当前支持的测量参数对上述所需的测试参数集进行调整；则设置模块32，还用于设置调整后的上述所需的测试参数集以进行OTDR测试。
[0159]在优选实施过程中，在设置模块32设置调整后的上述所需的测试参数集以进行OTDR测试之后，接收模块36接收OTDR的新的测试结果，获取模块30重新分析新的测试结果，根据新的测试结果获取上述相关信息，设置模块32根据上述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集。调整模块38还可以根据上述OTDR当前支持的测量参数对上述所需的测试参数集再次进行调整，之后设置模块32设置调整后的测试参数集以进行OTDR测试并返回更新的测试结果。需要说明的是，这个过程可以循环执行多次，经过多次OTDR测试，可以有效提高OTDR测试精度。
[0160]优选地，上述获取OTDR测试参数集的装置可以设置在FMS中。
[0161]需要说明的是，上述获取OTDR测试参数集的装置中各模块、各单元相互结合的优选实施方式具体可以参见图1至图2的描述，此处不再赘述。
[0162]综上上述，借助本发明提供的上述实施例，FMS根据上述OTDR的测试结果，获取ODN的相关信息；上述FMS根据上述相关信息计算得到重新发起OTDR测试所需的测试参数集，可以准确设置发起OTDR测试所需的测试参数集。并且经过多次OTDR测试，可以有效提高OTDR测试精度，获取最优OTDR测试参数集。
[0163]显然，本领域的技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个的计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
[0164]以上上述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种设置光时域反射仪OTDR测试参数集的方法，其特征在于，包括:
光纤管理系统FMS根据所述OTDR的测试结果，获取分配线网络ODN的相关信息；
所述FMS根据所述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述相关信息包括以下至少之一:
主干长度、分支长度、主干段损耗、分光器插损。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述所需的测试参数集为以下之一:
主干故障定位测试参数集、分支故障定位测试参数集、例测参数集。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述主干故障定位测试参数集、所述分支故障定位测试参数集、或所述例测参数集均包括:最小脉宽、测试时间、以及测试范围。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述FMS根据所述相关信息设置所述主干故障定位测试参数集包括:
采用主干段损耗确定需要OTDR测试的动态范围；
确定所述OTDR满足所述动态范围的所述最小脉宽并设置；
采用所述主干长度确定所述测量范围并设置；
采用主干段损耗确定所述测量时间并设置。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述FMS根据所述相关信息设置所述分支故障定位测试参数集包括:
采用所述主干段损耗、所述分支长度、光纤衰减系数以及所述分光器插损确定故障分支理论计算损耗；
采用所述故障分支理论计算损耗确定需要OTDR测试的动态范围；
确定所述OTDR满足所述动态范围的所述最小脉宽并设置；
采用所述主干长度和所述分支长度确定所述测量范围并设置；
采用所述故障分支理论计算损耗确定所述测量时间并设置。
7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述FMS根据所述相关信息设置所述例测参数集包括:
采用所述主干段损耗、所述分支长度、光纤衰减系数以及所述分光器插损确定ODN理论计算损耗；
采用所述ODN理论计算损耗确定需要OTDR测试的动态范围；
确定所述OTDR满足所述动态范围的所述最小脉宽并设置；
采用所述主干长度和所述分支长度确定所述测量范围并设置；
采用所述ODN理论计算损耗确定所述测量时间并设置。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述FMS根据所述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集之后，还包括:
所述FMS根据所述OTDR当前支持的测量参数对所述所需的测试参数集进行调整；
所述FMS设置调整后的所述所需的测试参数集以进行OTDR测试。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其特征在于，在所述FMS设置调整后的所述所需的测试参数集以进行OTDR测试之后，还包括:
所述FMS接收来自于所述OTDR的测试结果；
所述FMS被触发再次执行根据所述测试结果获取所述相关信息，并根据所述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集的步骤。
10.一种设置光时域反射仪OTDR测试参数集的装置，其特征在于，包括:
获取模块，用于根据所述OTDR的测试结果，获取分配线网络ODN的相关信息；
设置模块，用于根据所述相关信息设置后续进行OTDR测试所需的测试参数集。
11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述相关信息包括以下至少之一:
主干长度、分支长度、主干段损耗、分光器插损。
12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述所需的测试参数集为以下之一:
主干故障定位测试参数集、分支故障定位测试参数集、例测参数集。
13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述主干故障定位测试参数集、所述分支故
障定位测试参数集、或所述例测参数集均包括:最小脉宽、测试时间、以及测试范围。
14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述设置模块包括:
第一确定单元，用于采用主干段损耗确定需要OTDR测试的动态范围；
第一设置单元，用于确定所述OTDR满足所述动态范围的所述最小脉宽并设置；
第二设置单元，用于采用所述主干长度确定所述测量范围并设置；
第三设置单元，用于采用主干段损耗确定所述测量时间并设置。
15.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述设置模块包括:
第二确定单元，用于采用所述主干段损耗、所述分支长度、光纤衰减系数以及所述分光器插损确定故障分支理论计算损耗；
第三确定单元，用于采用所述故障分支理论计算损耗确定需要OTDR测试的动态范围；
第四设置单元，用于确定所述OTDR满足所述动态范围的所述最小脉宽并设置；
第五设置单元，用于采用所述主干长度和所述分支长度确定所述测量范围并设置；
第六设置单元，用于采用所述故障分支理论计算损耗确定所述测量时间并设置。
16.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述设置模块包括:
第四确定单元，用于采用所述主干段损耗、所述分支长度、光纤衰减系数以及所述分光器插损确定ODN理论计算损耗；
第五确定单元，用于采用所述ODN理论计算损耗确定需要OTDR测试的动态范围；
第七设置单元，用于确定所述OTDR满足所述动态范围的所述最小脉宽并设置；
第八设置单元，用于采用所述主干长度和所述分支长度确定所述测量范围并设置；
第九设置单元，用于采用所述ODN理论计算损耗确定所述测量时间并设置。
17.根据权利要求10至16中任一项所述的装置，其特征在于，还包括:调整模块，用于根据所述OTDR当前支持的 测量参数对所述所需的测试参数集进行调整；
所述设置模块，还用于设置调整后的所述所需的测试参数集以进行OTDR测试。
【文档编号】H04B10/071GKSQ
【公开日】日
申请日期:日
优先权日:日
【发明者】金晓静, 张德智
申请人:中兴通讯股份有限公司