eMMC常识性介绍N
摘自网络&&
eMMC使用厂商
& 目前针对全球主要手机大厂如诺基亚(Nokia)、三星电子(Samsung
Electronics)、摩托罗拉(Motorola)、黑莓(RIM)和乐金电子(LG
Electronics)等均已在智能手机或者3G手机等高端产品全面采用eMMC产品。对于苹果(Apple)，其ipad，iphone等产品使用的16GB，32GB等高容量存储，其实规格上也和eMMC类似，内部采用苹果自己的闪存控制器，外加闪存BGA封装片。其后继产品也很有可能直接用eMMC芯片。由于高端智能手机使用eMMC的容量至少在8GB以上，主流16GB，32GB容量更是对市场需求的拉动非常巨大。2011年第一季度，更是一度传出eMMC缺货或供不应求的新闻。
eMMC的市场应用
在手机市场，从2009年开始，智能型手机内嵌风潮涌起，到2011年智能型手机需求仍然持续发烧，随着智能手机的普及，eMMC的使用将更加广泛。目前已经支持eMMC的手机芯片如高通的3G平台系列，nVidia
tegra2，Freescale iMAX，Marvell，TI OMAP等高端平台均已全面支持eMMC技术。
　 除了手机市场，eMMC也开始广泛渗透入更多的嵌入式应用领域，特别是那些对闪存性能要求较高，使用环境复杂的领域。
在MID，eBook等市场，由于高端平台采用的也是多媒体AP架构，因此采用Freescale，Marvell，nVidia，Telechips，Samsung等平台的部分MID高端客户已经开始设计或在使用eMMC产品。eMMC也有逐渐渗透中低端平板电脑市场的趋势，而其高端市场，则依然被SSD等占领。
在游戏机领域，任天堂和Sony已经全面采用eMMC产品，而在卫星定位系统领域，Garmin的很多产品也已经开始支持eMMC。
车载前装后装市场也在快速成长，包括卫星导航系统、无线电卫星广播、汽车音响、DVD影音系统、语音识别、远端资讯处理和多媒体系统等都将成为汽车的标准配备，因而带动记忆体解决方案的需求不断提升。车载市场对温度的要求也很严格，很多需要支持-40°C~+85°C的温度范围，eMMC都能很好的支持。此外由于体积很小，eMMC有很好的抗震性能，功耗很低，在成本不是特别敏感的情况下，eMMC和SSD产品正在车载行业迅速取代传统的机械式硬盘市场。
eMMC市场的未来发展
　 据iSuppli公司，2010年用于手机的嵌入式多媒体卡(eMMC)
NAND闪存已出现爆炸性增长，预计出货量增长224%。iSuppli曾预测，2010年eMMC出货量将增长到7000万个，占总体NAND闪存出货量的10%。未来五年将继续强劲增长，保持86.4%的复合年度增长率。到2014年，eMMC出货量将达到4.8亿个，占总体NAND闪存出货量的40%左右。这个预测如今看来，可能过于乐观了，但eMMC的增长速度无疑是非常迅速的。
酒香不怕巷子深，其实eMMC的推广已经有些年头，近3,4年在消费类市场，则往往是雷声大，雨点小。真正使用的厂商还是以手机等国际一线大厂为主。之所以如此，除了eMMC技术还在逐步完善外，更重要的是其价格与传统的闪存卡或者闪存芯片的价格还有不小的差距。这些都阻碍了其在大众消费类电子领域的迅速普及。
但今非昔比，随着eMMC控制器厂商越来越多，技术支持也越来越成熟，而经过几年的历练，eMMC大厂如三星(Samsung)，闪迪(Sandisk)，美光(Micron)等eMMC生产的良率都大为改善。eMMC市场是否可以厚积薄发，则主要取决于这些核心上游厂商的产品报价和技术支持的力度。
随着电子产品核心芯片功能的日益加强，所以电子设备都有走向“智能化”的趋势，在电子产品“智能化”普及的大趋势下，eMMC作为闪存产品中质量最优异的家族成员，必将发挥更大的作用。
以下是UP-828对部份eMMC芯片的烧录情况：
H26M21001ECR
H26M31001EFR
KLM2G1DEDD
KLM4G2DEJE
MTFC4GGQDI-IT-JW410
KLM8G2FEJA
SDIN4C2-8G
1724MBytes
3636MBytes
1870MBytes
3816MBytes
4096MBytes
7632MBytes
7576MBytes
软件设置VCC与VCCQ电压
实际测量VCC电压
实际测量VCCQ电压
编程时间(S)
校验时间(S)
平均烧录速度
9.54MBytes/秒
6.82MBytes/秒
8.51MBytes/秒
10.43MBytes/秒
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以上网友发言只代表其个人观点，不代表新浪网的观点或立场。一种emmc芯片寿命检测方法
一种emmc芯片寿命检测方法
【专利摘要】一种EMMC芯片寿命检测方法，所述方法包括步骤：当flash空闲存储块足够写入数据时，将数据写入EMMC芯片；上层应用程序通过对EMMC芯片写入不同大小的文件来获取底层反馈的实际写入大小，求出各种大小文件的数据缓冲率，再通过统计android系统中所有应用程序在单位时间内对EMMC存储的使用、每个应用写入文件大小及次数计算出EMMC芯片的寿命。本发明可以于检测应用对flash读写是否合理、系统中所有应用对EMMC的使用状况，同时测试不同文件系统对于文件写入的缓冲情况，提高系统的健壮性，对于EMMC芯片寿命的预测，可以在其寿命将要终止时提示用户更换芯片，防止设备读写出现问题及数据的安全。
【专利说明】—种EMMC芯片寿命检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及移动设备存储芯片，尤其涉及一种EMMC芯片寿命检测方法。
【背景技术】
[0002]随着智能电视和移动终端设备的飞速发展，在这些设备上存储系统数据和用户数据的芯片大都采用flash芯片实现，因此flash芯片存储对整个设备的系统安全来说是极为重要的。
[0003]在目前主流应用android系统的设备中，flash存储包括两种方案,一种是flash+专用文件系统(YAFFS, Yet Another Flash File System),另外一种是EMMC芯片(EmbeddedMulti Media Card) +传统文件系统。由于EMMC芯片具有接口统一，体积小，读写速度快，使用方便等优点，被越来越多用做智能电视，手机，MID等的存储芯片。EMMC芯片将控制器和flash存储封装在一块芯片中，因此，其可以直接使用传统文件系统。
[0004]现有技术EMMC芯片存储部分采用的是flash芯片，flash芯片的存储单元包括SLC (Single Level Cell单层单兀)和MLC (Mult1-Level Cell多层单兀)两种架构的芯片，读写仍然有存储寿命限制，其寿命主要取决于对块的擦除次数。其中，SLC芯片的擦写周期有的高达100000次，而MLC芯片有的只有3000次，甚至更低的只有1000次的擦除寿命。在Android智能电视或移动终端设备的应用环境中，有时需要向EMMC芯片上保存一些数据或者更新一些数据，这样就涉及到flash芯片的擦写，频繁的擦写会缩短flash芯片的寿命进而会影响到整个设备的寿命。然而，在设备的具体使用过程中，系统应用对EMMC芯片访问的频率是多少，每次数据的存储量是多少，均无法直观看到。对于EMMC芯片的使用情况也无法得知，EMMC芯片的寿命也无法预知。系统中每个应用是独立开发的，可能会运行在各种不同的平台上，对存储的需求也是不一样的，因此对某个设备而言，存储的操作可能是复杂的。这样就有可能导致读写出现问题，进而丢失数据或造成不必要的损失。
[0005]因此，现有技术还有待于改进和发展。
【发明内容】
[0006]鉴于上述现有技术的不足之处，本发明为解决现有技术缺陷和不足，提出一种改进的方案，在EMMC驱动程序中增加测试程序的监控代码，并提供接口给测试程序操作，测试程序可通过操作接口获知EMMC芯片被访问的相关信息，确定flash芯片的使用状况，从而更加有效、安全地使用EMMC存储设备。
[0007]本发明解决技术问题所采用的技术方案如下:
一种EMMC芯片寿命检测方法，包括如下步骤:
A、统计EMMC芯片的入口处需要写入EMMC芯片的请求总数据量；
B、写入数据到EMMC芯片，判断flash空闲存储块是否足够写入数据，当flash空闲存储块足够写入数据时，将数据写入EMMC芯片；
C、统计单位时间内写入EMMC芯片中flash空闲存储块小于I个块的写入次数N1、小于2个连续块的写入次数N2,直至小于η个连续块的写入次数Nn ；
D、统计单位时间内写入EMMC芯片中flash空闲存储块小于I个块的数据缓冲率K1、小于2个块的数据缓冲率K2，直至小于η个连续块的数据缓冲率Kn ；
Ε、根据EMMC芯片中flash的总块数m、每个flash块可被编程的次数P、所述&、N2、……Nn参数、数据缓冲率1、K2……Kn参数计算出EMMC芯片的寿命为
【权利要求】
1.一种EMMC芯片寿命检测方法，其特征在于，包括如下步骤:
A、统计EMMC芯片的入口处需要写入EMMC芯片的请求总数据量；
B、写入数据到EMMC芯片，判断flash空闲存储块是否足够写入数据，当flash空闲存储块足够写入数据时，将数据写入EMMC芯片；
C、统计单位时间内写入EMMC芯片中flash空闲存储块小于I个块的写入次数N1、小于2个连续块的写入次数N2,直至小于η个连续块的写入次数Nn ；
D、统计单位时间内写入EMMC芯片中flash空闲存储块小于I个块的数据缓冲率K1、小于2个块的数据缓冲率K2，直至小于η个连续块的数据缓冲率Kn ；
Ε、根据EMMC芯片中flash的总块数m、每个flash块可被编程的次数P、所述&、N2、……Nn参数、数据缓冲率1、K2……Kn参数计算出EMMC芯片的寿命为单
2.根据权利要求1所述的一种EMMC芯片寿命检测方法，其特征在于，步骤A中具体为，对所有需要写入EMMC芯片的程序及其请求数据量进行列表存储，以统计出需要写入EMMC芯片的请求总数据量。
3.根据权利要求1所述的一种EMMC芯片寿命检测方法，其特征在于，所述步骤B中写入数据到EMMC芯片是测试程序或各应用程序根据需求写入数据到EMMC芯片。
4.根据权利要求1所述的一种EMMC芯片寿命检测方法，其特征在于，步骤C中，统计写入EMMC芯片中flash空闲存储块小于I个块的写入次数N1、小于2个连续块的写入次数N2,直至小于η个连续块的写入次数Nn是通过对EMMC芯片底层驱动程序监控读取EMMC驱动中的数据结构来实现的。
5.根据权利要求1所述的一种EMMC芯片寿命检测方法，其特征在于，步骤D中，所述数据缓冲率等于实际写入EMMC芯片的数据量与需要写入EMMC芯片的请求总数据量的比值，数据缓冲率K1=写入flash空闲块小于I个块的数据量/需要写入EMMC芯片的请求总数据量，数据缓冲率K2=写入flash空闲块小于2个块的数据量/需要写入EMMC芯片的请求总数据量，以此类推，数据缓冲率Kn=写入flash空闲块小于η个块的数据量/需要写入EMMC芯片的请求总数据量。
6.根据权利要求5所述的一种EMMC芯片寿命检测方法，其特征在于，所述实际写入EMMC芯片的数据量是通过对EMMC芯片底层驱动程序监控读取EMMC驱动中的数据结构来实现的。
7.根据权利要求1所述的一种EMMC芯片寿命检测方法，其特征在于，所述每个flash块可被编程的次数为EMMC芯片生产厂商的标定值。
8.根据权利要求1所述的一种EMMC芯片寿命检测方法，其特征在于，所述单位时间为24小时。
【文档编号】G11C29/08GKSQ
【公开日】日
申请日期:日
优先权日:日
【发明者】罗宏选, 张航志
申请人:Tcl集团股份有限公司【图文】eMMC完全解读、一份很好的eMMC学习资料_百度文库
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