JEM-2100F 应用广泛从材料科学、生命科學、医疗、制药、半导体到纳米技术。
利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时还可以得到纳米尺度的结构、成汾等信息。
高亮度的场发射电子枪轻松实现各种分析功能。
JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘迻。
技术参数:1.点分辨率:0.19nm
主要特点:1.高亮度场发射电子枪
3.新式侧插测角台,更容易倾转、旋转、加热和冷冻无机械飘移。
4.稳定性好、操作简便
5.微处理器和PC两套系统控制,防止死机
产品质量: 售后服务: 易用性: 性价比:
发表评论+4个积分, 删除评论-8積分采纳评论+20积分;
JEM-2100F 应用广泛从材料科学、生命科學、医疗、制药、半导体到纳米技术。
利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时还可以得到纳米尺度的结构、成汾等信息。
高亮度的场发射电子枪轻松实现各种分析功能。
JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘迻。
技术参数:1.点分辨率:0.19nm
主要特点:1.高亮度场发射电子枪
3.新式侧插测角台,更容易倾转、旋转、加热和冷冻无机械飘移。
4.稳定性好、操作简便
5.微处理器和PC两套系统控制,防止死机
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