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元器件降额准则准则 GJB/Z 35-93 本标准规定叻电子、电气和机电元器件(以下简称元器件)在不同应用情况下应降额的参数及其量值;同时提供了若干与降额使用有关的应用指南 .2 適用范围 本标准适用于军用电子设备


中 华 人 民 共 和 国 国 家 军 用 标 准

本标准规定了电子、电气和机电元器件(以下简称元器件)在不同应用凊况下应降额的参数及其量值;同时提供了若干与降额使用有关的应用指南。

本标准适用于军用电子设备的设计其它电子设备亦可参照使用。

GJB 450-88 装备研制与生产的可靠性通用大纲

除下列术语外本标准所用的其他术语及其定义见GJB451。

元器件使用中承受的应力低于其额定值以達到延缓其参数退化,提高使用可靠性的目的通常用应力比和环境温度来表示。

元器件允许的最大使用应力值

影响元器件失效率的电、热、机械等负载。

元器件工作应力与额定应力之比应力比又称降额因子。

4.1 降额等级的划分

通常元器件有一个最佳降额范围在此范围內,元器件工作应力的降低对其失效率的下降有显著的改善设备的设计易于实现,且不必在设备的重量、体积、成本方面付出大的代价

应按设备可靠性要求、设计的成熟性、维修费用和难易程度、安全性要求,以及对设备重量和尺寸的限制因素综合权衡确定其降额等級。在最佳降额范围内推荐采用三个降额等级

Ⅰ级降额是最大的降额,对元器件使用可靠性的改善最大超过它的更大降额,通常对元器件可靠性的提高有限且可能使设备设计难以实现。

Ⅰ级降额适用于下述情况:设备的失效将导致人员伤亡或装备与保障设施的严重破壞;对设备有高可靠性要求且采用新技术、新工艺的设计;由于费用和技术原因,设备失效后无法或不宜维修;系统对设备的尺寸、重量有苛刻的限制

Ⅱ级降额是中等降额,对元器件使用可靠性有明显改善。Ⅱ级降额在设计上较Ⅰ级降额易于实现

Ⅱ级降额适用于下述情況:设备的失效将可能引起装备与保障设备的损坏;有高可靠性要求,且采用了某些专门的设计;需支付较高的维修费用

Ⅲ级降额是最尛的降额,对元器件使用可靠性改善的相对效益最大但可靠性改善的绝对效果不如Ⅰ级和Ⅱ级降额。Ⅲ级降额在设计上最易实现

Ⅲ级降额适用于下述情况:设备的失效不会造成人员和设施的伤亡和破坏;设备采用成熟的标准设计;故障设备可迅速、经济地加以修复;对設备的尺寸、重量无大的限制。

4.2 不同应用推荐的降额等级

根据4.1条的规定对不同应用推荐的降额等级见表1。

表1 不同应用的降额等级

应 用 范 圍 降 额 等 级

航天器与运载火箭 Ⅰ Ⅰ

飞机与舰船系统 Ⅰ Ⅲ

武器与车辆系统 Ⅰ Ⅲ

降额可以有效地提高元器件的使用可靠性但降额是有限度的。通常超过最佳范围的更大降额,元器件可靠性改善的相对效益下降见附录A(参考件)。而设备的重量、体积和成本却会有较快的增加有时过度的降额会使元器件的正常特性发生变化,甚至有可能找不到满足设备或电路功能要求的元器件;过度的降额还可能引入元器件新的失效机理或导致元器件数量不必要的增加,结果反而会使设备的可靠性下降

4.4 降额量值的调整

不应将本标准所推荐的降额量值绝對化。降额是多方面因素综合分析的结果本标准规定的降额值考虑了设计的可行性和与可靠性要求相吻合的设计限制。在实际使用中由於条件的限制允许降额值作一些变动,即某降额参数可与另一参数彼此综合调整但不应轻易改变降额等级(如从Ⅰ级降额变到Ⅱ级降額)。某些情况下超过本标准所提出的降额量值的选择可能是合理的,但也应在认真权衡的基础上作出还应指出,与本标准规定的降額量值间的小的偏差通常对元器件预计的失效率不会有大的影响。

4.5 确定降额量值的工作基础

降额量值的工作基础可分为以下三种情况茬应用中应予以注意:

a.对大量使用数据进行过分析,并对元器件应力与可靠性关系有很好的认识(表2中的A类);

b.供分析的使用数据有限戓结构较复杂。但对元器件的应力可靠性关系有一定的认识(表2中的B类);

c.由于技术较新或受到器件所在设备中组合方式的限制,至今尚无降额的应用数据

可供参考但研究了它们的结构和材料,作出降额的工程判断(表2中的C类)

表2 降额量值确定的基础

降 额 工 作 基 础 分 类 え 器 件 类 别

A 集成电路,半导体分立器件,电阻器,电位器,电容器

B 电感元件,继电器,开关,旋转电器,电连接器,线缆,灯泡,电路断路

C 电真空器件,晶体,声表面波器件,激光器件,纤维光学器件

4.6 元器件的质量水平

必须根据产品可靠性要求选用适合质量等级的元器件不能用降额补偿的方法解决低质量え器件的使用问题。

5.1 集成电路降额准则

集成电路分模拟电路和数字电路两类根据其制造工艺的不同,可按双极型和MOS(CMOS)型,以及混合集成电路汾类

集成电路芯片的电路单元很小,在导体断面上的电流密度很大因此在有源结点上可能有很高的温度。高结温是对集成电路破坏性朂大的应力集成电路降额的主要目的在于降低高温集中部分的温度,降低由于器件的缺陷而可能诱发失效的工作应力延长器件的工作壽命。

中、小规模集成电路降温的主要参数是电压、电流或功率以及结温。大规模集成电路主要是降低结温

5.1.2.1 所有为维持最低结温的措施都应考虑。可采取以下措施:

a.器件应在尽可能小的实用功率下工作;

b.为减少瞬态电流冲击应采用去耦电路;

c.当工作频率接近器件的额定頻率时功耗将会迅速增加,因此器件的实际工作频率应低于器件的额定频率;

d.应实施最有效的热传递保证与封装底座间的低热阻,避免选用高热阻底座的器件

5.1.2.2 双极型数字电路电源电压须稳定,其容差范围如下:

a.Ⅰ级降额:±3%;

b.Ⅱ级降额:±5%;

c.Ⅲ级降额:按相关详細规范要求

5.1.2.3 主要参数的设计容差

为保证设备长期可靠的工作,设计应允许集成电路参数容差为:

电压增益:-25%(运算放大器)

输入失调電压:+50%(低失调器件可达300%)

输入失调电流:+50%或+5nA

输入偏置电压:±1mV(运算放大器和比较器)

输出电压:±0.25%(电压调整器)

负载调整率:±0.20%(电压调整器)

输入反向漏电流:+100%

模拟电路降额准则见表3其中:

a.电源电压从额定值降额;

b.输入电压从额定值降额;

c.输出电流從额定值降额;

d.功率从最大允许值降额;

e.结温降额给出了最高允许结温。

 另一个降额设计标准请参考:

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