射频功放自激现象调试的步骤有哪些

射频功率放大器常规调试流程

对於10W以上的大功率功率放大器来说由于大信号仿真模型没有达到一个很高的准确度,管子在大功率的工作状态十分不确定调试工作的重偠性相比于其他射频器件来说,占据的比重更大

射频功放自激现象调试的步骤一般是由以下几步构成:

STEP 1 确定芯片是否损坏

这一步主要是確定板子和管子的基本状态是否正常,首先利用万用表测量一下功放栅极对地、漏极对地的电阻是否正常确定管子是否损坏;再检查一丅电路板的状态,有无虚焊短路,装配功放管时接地是否做到最好等等

上电,测量漏极电压与栅极电压是否加上调整漏极电压与栅極电压的值,观察静态电流是否正常(有没有过大或者过小或者出现异常的跳变)

上电时要注意管子的上电顺序(GaN功放管先栅极再漏极,断电顺序则相反;LDMOS功放管无特殊要求)并且上电时输出端与输入端要连接仪器或者匹配负载。

对矢网进行校准后将功放输入端接矢網port 1,输出端接衰减器后再接入port 2(设置衰减器补偿)给功放加电,观察S11S21是否满足设计需求一般功放要求S11在工作频段内低于-10dB,由于矢网鈳以显示出Smith圆图因此可以通过理论计算与实际调试,使功放输入驻波达到要求S21约为设计增益值,且保证带内较为平坦一般要求增益嘚最高点落在工作频带中间的范围。再看S21时一定要将显示频率范围尽可能打宽若S21曲线有异常的尖峰,则可能引起功放自激在此过程中需对电路进行微调(贴铜箔、割补微带、替换元件值等),直至满足要求

功放输出端接衰减器后接入频谱仪,设置正确补偿值(只补偿功放后端的线衰和衰减器的衰减)

将信号源初始输入功率设为很小的值(-20dBm左右),逐渐增大观察输出功率增大情况以及电流增大情况,直至饱和点(一般为1dB压缩点)观察频谱仪,记录各次频谱及漏极电流收集数据,计算饱和输出功率、增益、谐波和效率等指标

信號源给出调试信号,频谱仪调整至IQ星座图分析模式根据相关指标观察功放的线性度指标。

若线性度指标不足尽量调整匹配电容,同时結合调整功放的静态电流

STEP 6 多块板一致性验证

装配相同的板子,确保PCB板参数一致的情况下性能也能保持一致

对功放板单板进行高低温试验主要观察其在高低温的情况下会不会出现工作性能的恶化,以及会不会出现自激等故障的现象

当高低温试验中,功放性能变化较大时需要对温度补偿电路进行调整;对于高低温试验中的故障现象,尽可能在常温环境中复现然后进行解决

1、除了常规指标,对于功放单板来说还有必要去测量其开短路保护性能、温度补偿与过温保护性能、连续发射能力、失配负载状态下功率输出能力等指标

2、电容调试棒調试、射频电缆点测法等等会更好地有助于提高定位问题和调试的效率平常需要准备些响应的材料

3、功放单板调试完并不能代表高枕无憂,加到整机系统中联调后可能也会出现诸如瞬态响应等问题,此时需要具体问题具体分析

2、馈电电路焊接问题;

4、是否因为操作不當,已经导致功放管损坏

2、检查是否存在短路(注意锡渣);

3、板子是否遭到破坏;

4、是否因为操作不当,已经导致功放管损坏

1、由於两路不完全平衡,进行相位补偿可以采用调试电容棒,在两路分别进行调测电容棒本身具有两脚,并且和电路接触面积与实际电容嘚接触面积不同等原因会存在一定容值偏差所以实际焊接时使用调试值附近的容值进行微调;

2、匹配不够,由于功放管最佳输入输出阻忼带有虚部而巴伦结构只能变换实部,故需要进行一定的虚部的抵消

2、注意散热是否可靠,若散热不够不能长时间连续进行大功率信號发射

1、接地不良好,可以采取增加接地面积或与外壳之间的连接;

2、供给的直流电源滤波不够造成了其不够干净,此时需要再增加濾波措施;

3、射频信号耦合到了直流电压上可以在低频线上套磁环,低频线和射频线尽量远离或改变它们的走向;

4、各个放大器之间在某些频率点上失配严重导致了射频信号的来回反射,这种情况就需要对电路进行重新调整或适当增加匹配之间的隔离

5、散热不良,随著温度的升高功放管的内部性能变差造成不稳定。这种情况需要加强散热

6、寄生参数原因造成的功放自激比如盖上整机外壳之后因为引入寄生参数导致的自激。这种情况需要重新考虑输入输出电路的形式避免在引入寄生参数以后特性发生严重变形

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刚参加工作时主要工作方向是低噪放设计。刚开始会听老同事讲遇到自激,就会很麻烦因为调试起来很费时间,需要在保证带内性能的前提下把自激现象消除掉。

当时测试一个放大器是否自激主要方法就是输出端连接频谱仪,输入端变换三种负载(开路短路,负载),看频谱仪上是否有自激现象瑺温和低温下都需要做一下这个试验。如果在常温下自激还算幸运的;如果常温不激低温激,就麻烦了出现这种现象,第一步是看看能不能通过改变外接的输入端负载把自激现象在常温下复现出来,如果还不行你就只好纯粹的盲调了。就是把温箱打开然后把放大器放里面,等冻透了后再从孔里抽出来,然后赶紧调试调完后再放回温箱,看是否自激这个步骤可能需要重复很多次,才能把自激現象消除

等到自己开始有机会设计放大器时,通过阅读文献发现,其实这种方法是有局限性的因为放大器是需要输入端外接任何负載时(即整个Smith圆图上所有的阻抗值),都需要不自激才能算绝对稳定。所谓绝对稳定是指无条件稳定,即放大器不管输入端是什么负载嘟不会自激。但现在上面只用了三种负载所以,我一直觉得这种方法测试出来的不自激放大器也不一定是绝对稳定的

其实,在文献【1】讲到近年提出一种新的判别依据,即u因子它是放大器是否稳定的一个充分必要条件,当其大于1的时候放大器绝对稳定,当其值小於1的时候放大器不稳定。而且其值的大小还与稳定性的强弱有关越大,稳定性越强(而K因子没有这个特性而且K因子需要和delta配合,才是放大器绝对稳定的充要条件)

幸运的是,仿真软件和测试仪器上都有这个参数的测量在仿真和测试过程中,只要保证u大于1放大器就绝對不会自激。

当时我师父让我设计一个放大器,其输入端最后是与天线的馈点连接组成一个有源天线。当时师父给了我一个电路,巳经在其他产品上用过了没有出现问题,让我照着这个电路画就行了我用仿真软件把这个电路仿真了一下,发现u因子在带外有一段频率是小于1的当时,还特地找师父确认了一下这个电路是没有自激现象的。当时心想,可能是仿真软件不准吧

后来,产品加工出来後带内性能没有问题,按前面的三负载方法测试后没有出现自激现象,就交给天线人员去集成了第二天,天线人员就过来和我说洎激了。去一瞧配上天线与放大器连接的那个电缆,自激了而且频率正好在当时仿真时出现u因子小于1的频率段,但是变一下电缆长度自激现象就消失了。当时心想,老天对我真是不薄让我有机会验证理论知识。接着在仿真软件上调整匹配电路把u因子调整成在整個频段上都大于1,然后按照匹配仿真值修改放大器电路,自激现象消失了

所以说,其实u因子是一个非常直观的判断放大器是否可能自激嘚方法,而且现在仿真软件和矢网都有这个测量参数很方便,可以让我们不用谈"自激"色变

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