复式结构光子晶体缺陷的缺陷分析用什么软件好

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西南交通大学
硕士学位论文
缺陷结构对单负材料光子晶体透射谱的影响
姓名:杜启明
申请学位级别:硕士
专业:理论物理
指导教师:曾勇
西南交通大学硕士研究生学位论文
由于光子晶体特殊光学性质使得对光子晶体的研究,无论是在理论上,还是实验和
应用上都获吸引了人们广泛的关注。光子晶体结构可以很好的控制光路的传播路径,
而且还能现今的半导体材料科学和精密加工工艺很好地结合,极有可能成为未来光电
产业的基础材料。光子晶体的制作过程中会不可避免的掺入杂志。由于在光子晶体中
掺杂引入缺陷将会破坏光子晶体原来的周期性结构或者周期单元中材料结构的物理
特性,引起光子晶体的带隙结构发生变化。由于缺陷的引入,原来完好的光子晶体带
隙结构中将产生非常强的光子局域,形成缺陷模。
运用传输矩阵法研究光在有缺陷结构的单负一维光子晶体的传输特性。首先讨论
了带有缺陷结构的单负一维光子晶体的透射谱、反射谱以及光场,分析缺陷结构对单
负材料一维光子晶体的缺陷模的影响。经过数值模拟发现,缺陷结构的光学厚度会影
响缺陷模的中心频率和空间分布,缺陷层周围的介质材料参数也会影响缺陷的光学特
性。因此,改变缺陷层的数目和在光子晶体中的位置可以使缺陷模的位置发生移动并
有可能导致缺陷模分裂。
为了能够实现对光波的传输过程的动态调节,尝试选
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光子晶体缺陷模特性与应用的研究.pdf44页
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硕士孝位论文
⑨MASTER’STtlESIS
光子晶体具有和固体电子晶体相似的特性,表现出光禁带特性以及光局域特
性,处于光禁带中的光不能在光子晶体中传播。在光子晶体中引入点缺陷、线缺陷,
可形成光子微腔和一维光波导,进一步利用这些缺陷以及它们的组合可形成多种新
型光子器件。对光子晶体缺陷模的研究对新型光子器件的设计,制造有重要指导意
本文运用时域有限差分法 FDTD 和采用完全匹配层 PML 边界条件,首先对二
维圆介质柱光子晶体的带隙以及点缺陷和线缺陷的传输特性进行了分析计算,发现
随着点缺陷半径的增大,缺陷峰的位置向低频方向移动;随着晶格常数增大,线缺
陷波导的通带的中心波长逐渐向长波长方向移动。
迸一步在二维正方格圆柱光子晶体结构的原型基础上,引入线缺陷,同时还首
次引入椭圆点缺陷构成组合缺陷,讨论了椭圆点缺陷围绕其中心位置平移和旋转时
缺陷模的变化。发现当椭圆点缺陷平移时,共振峰对应的中心波长在2.509~2.673ttm
之间呈近似周期性的波动;而当点缺陷介质柱旋转,且角度在300~600间偏移时,
共振峰中心波长保持不变,当角度在其他范围之问时,共振模呈现单双交替变化现
象,中心波长相应发生改变。
最后构建了一种沿波传播方向晶格常数渐变的新型光子晶体结构,同时引入组
合缺陷。恰当地选择微腔,缺陷模可以实现可控变化,并有相近的峰值,而且缺陷
峰线宽约为10nm左右。并利用这种缺陷态结构设计了六信道波分解复用器。
关键词:光子晶体;缺陷模;时域有限差分法
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复式晶格光子晶体光纤特性分析
【摘要】:提出了一种新型复式晶格光子晶体光纤,通过向传统正方形格子空气孔光子晶体光纤中引入半径相同但折射率为负的介质柱,构成两种正负折射率介质柱嵌套的周期性排列结构。用平面波法和时域有限差分法分析这种光纤的光子特性,仿真结果表明:与传统正方形格子空气孔光子晶体光纤相比,这种光纤可以实现光子带隙效应导光。当R1/Λ=0.35,衬底折射率nb=1.48,空气孔折射率na=1.0,介质柱折射率nc=-1.0时,取晶格常数Λ范围为1.5~3.0μm,传输波长范围为880nm~2300nm。在晶格常数Λ为2.0μm时分析中心缺陷孔径分别为2.0μm,4.0μm时的色散曲线,随着中心缺陷孔径与晶格常数比值的增大,色散曲线的斜率绝对值稍微变大。
【作者单位】:
【关键词】:
【基金】:
【分类号】:TN818【正文快照】:
1引言光子晶体光纤(Photonic Crystal Fibers,PCFs)[1]是一种纵向带有线缺陷而横向为周期性结构的二维光子晶体,纤芯则是破坏周期性结构的线缺陷。二维光子晶体重要特征是存在光子带隙(Photonic Band Gap,PBG),可以使特定波长范围内的光波被局限在PBG-PCFs纤芯中沿纵向传播。
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京公网安备75号光子晶体中的缺陷模特性研究--《电子科技大学》2011年博士论文
光子晶体中的缺陷模特性研究
【摘要】:光子晶体作为一种人工结构材料,未来将在光通信中发挥极其重要的作用。关于光子晶体的研究,可以分为实验和理论两个方面,而不论是实验还是理论,对于光子晶体禁带和光子晶体缺陷模性质的讨论都是光子晶体研究的两个最主要的内容。其中,含有缺陷的光子晶体所产生的缺陷模因为其应用极其广泛而得到了更多的关注。就好像在半导体中掺入杂质以改善和控制半导体的导电性能一样,在光子晶体中可以以同样的引入缺陷的方式来改善和控制光子晶体的光传输性能。虽然最终的目的是在实验上实现缺陷的有效引入,但是完成这个梦想的先决条件却是要有可靠的理论作支持。因此,本论文主要从理论上对含有缺陷的光子晶体所激发缺陷模随晶体结构参数变化而发生改变的一些规律进行了讨论。因为一维光子晶体的制作和理论分析都相对简单,而且很多的结论对于更高维的光子晶体同样是有效的,或者对于更高维的光子晶体分析奠定了一定的基础,所以在本文中主要讨论了一维光子晶体中缺陷模的特性。
论文主要内容有:
1由单负材料和负折射率材料构成的一维光子晶体中能带和缺陷模特性研究。负折射率材料是近年来的研究热点,不仅因为其本身就有很多的光学优点(例如形成完美透镜),而且在光子晶体中引入负折射率材料后也会出现很多新的和有用的特性(例如全向带隙)。关于含负折射率材料光子晶体的讨论已经有很多了,但是关于由单负材料和负折射率材料构成的一维光子晶体的研究几乎没有。在本论文中,分析了由单负材料和负折射率材料构成的一维光子晶体能带和缺陷模特性,并将所得结果与已有的结论相对比,发现在这种新的结构中出现了一个新的特殊带隙,这个带隙同时具有零平均折射率能隙和零有效相位能隙的特点。而出现在这种新带隙中的缺陷模则对应有非常细的透射峰,缺陷模对应波长随缺陷层厚度变化而发生改变的规律与正常材料晶体中缺陷模变化规律也完全不同。
2缺陷模在光学传感方面的应用特点研究。不论是禁带边缘还是缺陷模位置都会随着晶体结构参数的改变而发生变化,可以利用这种变化的规律有意识的通过观察缺陷模的变化反推出晶体结构参数改变的情况,这就是传感器原理。在本论文中,通过分析缺陷模随缺陷层厚度和折射率改变而发生变化的规律,发现含有缺陷层的一维三层光子晶体所激发缺陷模比同样的完整光子晶体禁带边缘对于晶体结构参数的改变有着更高的灵敏度。随后通过分析由单负材料和负折射率材料构成的一维光子晶体中缺陷模随缺陷层厚度和折射率改变而发生变化的规律发现,相对于一维三层光子晶体中的缺陷模,由单负材料和负折射率材料构成的一维光子晶体中缺陷模又有更高的灵敏度。
3对含有两个非线性缺陷层光子晶体所具有的双稳态效应的分析。非线性光学相比于线性光学有很大的差异,例如,非线性材料的折射率可能和光的强度相关(光学克尔效应),由此导致含非线性材料光子晶体中入射光强和出射光强一般呈非线性关系(光学双稳效应)。在对于双稳效应的讨论中,更低的双稳阈值一直是研究的热点。本论文中,首先分析了含单个非线性缺陷层光子晶体所对应的双稳阈值和晶体结构参数之间的关联情况,其次分析了含有两个非线性缺陷层光子晶体所对应双稳效应与晶体结构参数之间的关系。其分析结果表明,相对于只含一个非线性缺陷层的情况,总的说来含两个非线性缺陷层光子晶体所对应的双稳态确实有着更低的双稳阈值。另外,含有两个非线性缺陷层的光子晶体本身具有非常丰富的双稳效应随结构参数改变而发生变化的现象,本论文也针对这些不同的双稳现象进行了详细分析。
4一维光子晶体中慢波结构的分析。慢波结构是近年来的研究热点,因为其在光存储,光开关等方面有着潜在的巨大应用价值。通常利用二维光子晶体中的耦合模波导来实现慢波结构,事实上,在一维光子晶体中引入周期性排列的缺陷层就可以实现波速的减慢。本论文就对一维光子晶体慢波结构进行了分析,主要讨论了缺陷模导带和对应的导带群速度随缺陷层结构参数改变而发生变化的规律,以及在慢波结构中引入新的缺陷层时所对应的缺陷模导带和导带群速度的变化情况。
【关键词】:
【学位授予单位】:电子科技大学【学位级别】:博士【学位授予年份】:2011【分类号】:O77【目录】:
ABSTRACT7-13
第一章 绪论13-24
1.1 光子晶体概念13-15
1.2 光子晶体发展现状15-16
1.3 光子晶体发展前景16-18
1.4 光子晶体中的缺陷模18-20
1.5 左手材料和非线性材料在光子晶体中的应用20-22
1.6 慢波结构22
1.7 本文的主要内容及结构安排22-24
第二章 用传输矩阵法讨论光子晶体的传输特性24-39
2.1 光子晶体能带24-28
2.1.1 光子晶体能带的概念24-25
2.1.2 一维光子晶体中的禁带25-27
2.1.3 光子晶体能带的获得27-28
2.2 光子晶体缺陷模28-30
2.2.1 光子晶体缺陷概念28-29
2.2.2 光子晶体缺陷模29-30
2.3 光子晶体中常用理论计算方法30-31
2.4 传输矩阵法31-34
2.4.1 传输矩阵的推导31-33
2.4.2 一维光子晶体中的传输矩阵33-34
2.5 用传输矩阵模拟一维光子晶体传输特性34-38
2.5.1 完整一维光子晶体的传输特性35-36
2.5.2 含有缺陷层的光子晶体传输特性36-38
2.6 本章小结38-39
第三章 含负折射率材料光子晶体中的缺陷模特性39-71
3.1 负折射率材料简介39-46
3.1.1 负折射率材料的概念39-41
3.1.2 负折射率材料的物理特性41-43
3.1.3 负折射率材料的电容率和磁导率表达式43-44
3.1.4 包含负折射率材料的光子晶体44-46
3.2 由单负材料和负折射率材料构成的一维光子晶体传输特性46-48
3.2.1 具有负折射率材料光子晶体中所用的传输矩阵法46-47
3.2.2 用传输矩阵法计算由单负材料和负折射率材料构成的光子晶体传输特性47-48
3.3 由单负材料和双负材料构成的光子晶体中的缺陷模性质48-54
3.3.1 在单负材料和双负材料构成的光子晶体中引入正常材料缺陷层49-53
3.3.2 在单负材料和双负材料构成的光子晶体中引入负折射率材料缺陷层53-54
3.4 正常材料光子晶体中两个正常材料缺陷层所激发缺陷模的耦合54-59
3.4.1 单个缺陷层所激发缺陷模的情况54-56
3.4.2 两个缺陷层所激发缺陷模耦合的情况56-59
3.5 正常材料晶体中两个负折射率材料缺陷层所激发的缺陷模的耦合59-63
3.5.1 单个负折射率材料缺陷层所激发缺陷模的情况59-61
3.5.2 两个负折射率材料缺陷层所激发缺陷模耦合的情况61-63
3.6 正常材料晶体中两个单负材料缺陷层所激发的缺陷模的耦合63-64
3.7 缺陷模作为光学传感具有很高的灵敏度64-69
3.7.1 一维三层光子晶体中缺陷模的反应灵敏度65-67
3.7.2 单负材料和负折射率材料构成的光子晶体中缺陷模光学性质67-69
3.8 本章小结69-71
第四章 含非线性材料光子晶体中的缺陷模特性71-104
4.1 非线性光学材料简介71-73
4.2 含有非线性材料光子晶体所用的非线性传输矩阵73-75
4.3 光学双稳态75-77
4.4 含有一个非线性缺陷层的正常材料光子晶体双稳特性77-85
4.4.1 不同厚度缺陷层所对应的不同双稳效应78-81
4.4.2 不同位置缺陷层所对应的不同双稳效应81-83
4.4.3 位于不同带隙的缺陷模对应有不同的双稳特性83-85
4.5 含两个非线性缺陷层的光子晶体双稳特性分析85-102
4.5.1 不同耦合模对应的晶体双稳特性分析85-90
4.5.2 缺陷层厚度对于晶体双稳特性的影响90-93
4.5.3 缺陷层位置对于晶体双稳特性的影响93-95
4.5.4 入射波长对于晶体双稳特性的影响95-100
4.5.5 缺陷层间距对于晶体双稳特性的影响100-102
4.6 本章小结102-104
第五章 一维光子晶体中的慢波结构104-116
5.1 分析慢波结构时常用的传输矩阵法105-106
5.2 一维光子晶体中的慢波结构性质分析106-113
5.2.1 一维慢波结构中的缺陷模导带107-109
5.2.2 一维慢波结构中缺陷模导带具有的群速度109-113
5.3 具有缺陷的慢波结构性质分析113-115
5.3.1 具有缺陷的慢波结构中的缺陷模导带性质113-114
5.3.2 具有缺陷的慢波结构中的缺陷模导带群速度分析114-115
5.4 本章小结115-116
第六章 总结和展望116-119
6.1 全文总结116-117
6.2 工作展望117-119
致谢119-120
参考文献120-129
攻博期间取得的研究成果129-130
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